Wafer Bump&Wire Bonding 3D AOI


3D Wafer Bump(晶元錫焊)、Wire Bonding(引線(xiàn)鍵合)AOI檢測系統

image.png

高精度3D Wafer(晶元)檢測精密解析度配置可實(shí)現針對Foot形態(tài)元件的整體檢測

可直接檢測鏡面元件,避免反光問(wèn)題

奔創(chuàng )特有的3D技術(shù) 實(shí)現元件的精準3D成型,機器鏡頭采用同軸照明輔助2D檢測。

支持SIP/FCBGA/FOWLP/FOPLP/WLCSP等各種封裝方式的解決方案

AOI + SPI 混合檢測系統

image.png

精密解析度實(shí)現針對Bump、Mini LED、009004等各種微型、密集型元件的3D檢測 

image.png